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當前位(wèi)置:首頁(yè) > 技術文章(zhāng) > 偏(piān)光(guāng)顯微鏡供應(yīng)_數(shù)碼偏光顯微鏡(jìng)用於(yú)觀察(chá)和(hé)診斷(duàn)結晶(jīng)病變(biàn)_廣(guǎng)州明慧偏(piān)光(guāng)顯(xiǎn)微鏡被(bèi)廣(guǎng)泛應用於地質學(xué)和礦物學(xué)研(yán)究中(zhōng),用(yòng)於觀察和(hé)分析各(gè)種岩(yán)石,礦石(shí),礦物樣本的(dí)結(jié)構,組成(chéng),成分和(hé)紋理。通(tōng)過(guò)觀(guān)察(chá)樣品(pǐn)在偏(piān)光光綫下(xià)的反應,可(kě)以(yǐ)判斷岩石的成因,變(biàn)質(zhì)程度,岩性等。
偏(piān)光(guāng)顯微鏡在地質(zhì)學中(zhōng)可以觀(guān)察以(yǐ)下內(nèi)容:
1. 礦物組(zǔ)成與鑒定(dìng)
2. 岩石成因與(yǔ)變質程度
3. 組織(zhī)結構(gòu)與構造(zào)特征(zhēng)
4. 礦(kuàng)石與礦(kuàng)床研(yán)究
雙折射(shè)性是晶(jīng)體的基(jī)本特征。因此,偏(piān)光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦(kuàng)物,高(gāo)分(fēn)子,纖維,玻(bō)璃,半導體,化學(xué)等領(lǐng)域(yù)。
偏光(guāng)顯微鏡(jìng)供應(yīng)_數碼(mǎ)偏(piān)光(guāng)顯(xiǎn)微(wēi)鏡用(yòng)於(yú)觀察和診斷結(jié)晶病(bìng)變_廣州(zhōu)明慧

明慧(huì)偏(piān)光顯(xiǎn)微鏡MHPL3230非常(cháng)理(lǐ)想(xiǎng)地適(shì)用於(yú)錐光(guāng)法(fǎ):
具有高(gāo)放(fàng)大倍率和高數(shù)值孔徑的無(wú)應力(lì)物(wù)鏡是(shì)該(gāi)項(xiàng)應用的條件。
利用光的偏振特(tè)性(xìng)對具有雙(shuāng)折射性物質進(jìn)行(háng)研究鑒定(dìng)的儀(yí)器,可(kě)供(gōng)廣大(dà)用戶進行(háng)單(dān)偏(piān)光觀察(chá),正交偏光觀察,錐光觀察。
產品配置無應力(lì)平場消(xiāo)色差物(wù)鏡與(yǔ)大視野(yě)目鏡(jìng),高精(jīng)度偏光載(zǎi)物台(tái),優良的偏(piān)振(zhèn)觀察(chá)附(fù)件等(děng)。可在透射(shè)偏光(guāng),反射偏(piān)光(guāng)與(yǔ)透(tòu)/反射偏光狀態下獲得良好的顯微(wēi)圖像,儀(yí)器(qì)機(jī)械性(xìng)能(néng)優良,觀察(chá)舒(shū)適,操作方便。
三(sān)目(mù)鏡筒可自由切換目(mù)視觀察(chá)與(yǔ)顯(xiǎn)微攝影(yǐng),攝(shè)影時可通(tōng)光(guāng),適合(hé)低(dī)照(zhào)度(dù)顯(xiǎn)微圖像拍(pāi)攝。
銷售(shòu)正交偏光(guāng)顯(xiǎn)微鏡(jìng)廠(chǎng)家_透(tòu)反(fǎn)偏光(guāng)顯(xiǎn)微鏡用於區(qū)分(fēn)正常細(xì)胞和細胞_廣州明慧(huì)

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